网络讲座内容简介:

C-AFM即导电原子力显微镜在测量纳米尺度样品形貌同时可获得样品的电学特性，例如半导体器件，复合材料，纳米纤维等等。利用原子力的高精度定位，可针对感兴趣区域进行I-V特性研究。该讲座还介绍了C-AFM的不同类型样品的制备和探针种类的选择与推荐。C-AFM是基于原子力contact 模式，在其样品形貌反馈基础上，增加了电流放大器等模块形成样品与探针的电学接触回路。详细介绍了对于样品测试时电流放大器Gain增益，setpoint 和 scan rate参数优化。

通常在针尖和样品之间流动的电流非常小，需要通过电流放大器进行放大，然后才能处理成清晰的电流分布图像。在考虑电流放大器档位选择同时，选择探针的类型也需要考虑样品的类型或应用，有几种类型的悬臂在材料、形状、弹簧常数和共振频率方面有所不同。为了测量悬臂和样品之间的电流，悬臂应该由导电材料组成或涂覆。在 C-AFM 测量期间，悬臂尖端与样品接触。例如，如果是软样品，CDT悬臂等带有硬尖端的悬臂，会损坏样品表面，测量高度不准确，从而导致电流测量不稳定。然而，对于高电导率样品，悬臂上的涂层很容易被悬臂和样品之间流动的大电流剥离，CDT系列悬臂或Pt涂层的悬臂是不错的选择。所以探针的类型的选择也决定了实验结果的准确性。


潘涛
Park原子力显微镜公司高级工程师
资深AFM应用工程师，在AFM领域工作6年，具有丰富的AFM的样品测试经验。长期从事测量力学性能的纳米尺度表征，加入帕克（Park）公司后，主要从事原子力显微镜在计量领域的相关应用。

#CAFM #Webinar #AFM